納米級視野：一探納米顆粒跟蹤分析儀的技術(shù)特點

　　納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的物理性能測試儀器，主要用于材料科學(xué)、生物學(xué)、預(yù)防醫(yī)學(xué)與公共衛(wèi)生學(xué)、臨床醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。該儀器通過d特的分析技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對納米顆粒的精確測量和分析，為科學(xué)研究和技術(shù)應(yīng)用提供了重要的支持。其原理是利用光散射和布朗運動的特性來獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。

　　其使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高，需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后，可通過分析軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，如計算平均直徑、濃度等參數(shù)。

　　納米顆粒跟蹤分析儀技術(shù)特點的詳細(xì)介紹：

　　1、高分辨率：能夠?qū)腋∫褐辛椒植挤秶^寬的顆粒進(jìn)行q方位表征，具有高的分辨率。對于粒度較為接近的顆粒仍然可以準(zhǔn)確分析，特別是在生物樣品中，顆粒分布呈現(xiàn)極不均勻的寬分布狀態(tài)時。

　　2、自動聚焦：在測試過程中，能夠自動聚焦，無需人工干預(yù)，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

　　3、準(zhǔn)確度高：可以對每一個納米顆粒進(jìn)行追蹤，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確，更加穩(wěn)定。通過二維Stokes-Einstein方程計算顆粒流體力學(xué)半徑，確保了測量的準(zhǔn)確性。

　　4、操作簡便：操作界面友好，使用簡便。用戶只需簡單的設(shè)置即可完成樣品測量，大大節(jié)省了時間和人力成本。

　　5、多功能性：除了基本的粒度測量功能外，還具備熒光識別檢測功能，可以對熒光標(biāo)記的生物樣本或合成顆粒進(jìn)行檢測。一些高級型號的納米顆粒跟蹤分析儀還具備流變功能，能夠檢測非牛頓流體樣品的粘度。